每一款不一樣的檢測(cè)試品，放進(jìn)來(lái)到恒溫老化房中做測(cè)驗(yàn)，他們都是有一定的注重。有一空的測(cè)試流程，以下林頻小編總結(jié)供參考：

　　1、恒溫老化房在試品關(guān)閉電源的情況下，先將溫度降低到-50°C，維持4個(gè)鐘頭;切勿在試品插電的情況下開(kāi)展低溫檢測(cè)，十分關(guān)鍵，由于插電情況下，處理芯片自身便會(huì)造成+20°C之上溫度，因此 ，在插電情況下，一般較為特別容易根據(jù)低溫檢測(cè)，務(wù)必先將其“凍透”，再度插電開(kāi)展檢測(cè)。

 

　　2、恒溫老化房啟動(dòng)，對(duì)試品開(kāi)展功能測(cè)試，比照特性與常溫下對(duì)比是不是一切正常。

 

　　3、開(kāi)展高低溫試驗(yàn)，觀查是不是有數(shù)據(jù)對(duì)比不正確。

 

　　4、提溫到+90°C，維持4個(gè)鐘頭，與低溫檢測(cè)反過(guò)來(lái)，升溫全過(guò)程持續(xù)電，維持處理芯片內(nèi)部的溫度一直處在高溫情況，4個(gè)小時(shí)后，實(shí)行2、3、4測(cè)試流程。

 

　　5、高溫和低溫檢測(cè)各自反復(fù)10次。

 

　　6、假如檢測(cè)全過(guò)程出現(xiàn)一切一次，不可以一切正常工作中的情況，則視作檢測(cè)不成功。